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    光場調控實驗系統 型號:ZXTWGC-Ⅰ

    光場調控實驗系統 型號:ZXTWGC-Ⅰ

    簡要描述:
    光場調控實驗系統 型號:ZXTWGC-Ⅰ

    技術參數
    1、儀器的組成:半導體激光器、光具座、滑座、二維調節滑座、二維WEI傾架、SLM空間光調制器、傅里葉透鏡、擴束鏡、偏振片、1/4波片、準|直透鏡、調制波片、物屏、CCD采集系統等
    2、半導體激光器:波長650nm,帶寬<0.2nm,功率3mw;

    產品時間:2025-02-18

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    廠商性質:生產廠家

    生產地址:

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    光場調控實驗系統 型號:ZXTWGC-Ⅰ

    實驗內容
    1、了解4f光學系統的結|構和原理;
    2、透射式空間光調制器;
    3、強|度調制、相位調制;
    4、了解光偏振的調制原理;
    5、觀察渦旋光等調制現象。

    光場調控實驗系統 型號:ZXTWGC-Ⅰ

    技術參數
    1、儀器的組成:半導體激光器、光具座、滑座、二維調節滑座、二維WEI傾架、SLM空間光調制器、傅里葉透鏡、擴束鏡、偏振片、1/4波片、準|直透鏡、調制波片、物屏、CCD采集系統等
    2、半導體激光器:波長650nm,帶寬<0.2nm,功率3mw;
    3、導軌長度1200mm;
    4、偏振器、1/4波片轉盤可轉動360°,角度分辯率1°;
    5、SLM像元|大|小:18*18um
    6、傅里葉透鏡:f=150;
    7、二維調節滑座,調節范圍:0-25mm;
    8、CCD采集系統及SLM可視化編輯軟件;
    氦氖激光器及三維調整架(選配)。

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